12月2日，ACM/IEEEDCS 2020测试技术国际大会在中国广州召开。其中，IEEE 有关数据存储技术的会议向清华大学施万中教授颁发了测试技术领域最高荣誉奖项——测试技术杰出贡献奖。
施万中教授在测试领域为科研教育事业做出了杰出贡献。施万中教授和其团队不断推进学术创新，在细粒度缺陷检测、供电噪声补偿测试技术等方面取得了一系列创新成果和应用案例，其中不乏开辟科研领域新境界的成果，他为行业的发展做出了杰出的贡献。
该奖项旨在表彰测试技术领域具有杰出成就与贡献的个人，并对他们的成就和指导作用表示公开的崇高认可，赞誉施万中教授为测试技术领域的杰出专家和教育家。
这次荣誉的授予进一步宣示了施万中教授和团队在测试技术领域的学术地位和影响力，旨在进一步推动测试领域的学术发展和产业应用。
